آلودگی ناشی از زهرابه قارچی آفلاتوکسین به عنوان یک معضل اساسی برای صادرات پسته محسوب می شود. استفاده از تکنیک طیف سنجی رامان در تشخیص و تفکیک مواد مختلف رو به افزایش است. با توجه به مسائل پیش روی روش های آزمایشگاهی سنجش سم مذکور، در این پژوهش امکان آشکارسازی طیف رامان آفلاتوکسین (B1) پسته با استفاده از روش SERS بررسی شده است. زیرلایه مورد استفاده، متشکل از کلوئید نانو ذرات نقره روی شیشه بوده است. برای تهیه نانوذرات کلوئیدی از روش کاهش شیمیایی استفاده شد. با مقایسه عدد موج متناظر پیک های طیف رامان آفلاتوکسینB1 (در غلظت 1000ppb) با مقادیر به دست آمده از روش محاسباتی، پیک های واقع درcm-1 945،1048،1148،1252،1390،1527،1583،1658 به عنوان اثر انگشت های طیف رامان آفلاتوکسین B1 تایید شدند. نتایج حاکی از آن است که طیف سنجی رامان پتانسیل لازم برای کاربردی شدن در زمینه تشخیص آفلاتوکسین B1 در غلظت را دارد اما برای رسیدن به حد تشخیص (LOD) مورد نیاز پسته (ppb5 و پایین تر)، بایستی ضریب ارتقاء زیرلایه ها افزایش یابد.
